1. ¸éÀúÇ×
(ohm/sq = ¥Ø/¡à = Sheet resistance)À̶õ? |
|
¸éÀúÇ×Àº ´ÜÀ§ ohm/sq·Î Ç¥½ÃµË´Ï´Ù. ¿©±â¼ sq´Â ¤±·Îµµ Ç¥½ÃµÇ¸ç,
¹ÌÅ͹ý(cm2 µî)ÀÌ ¾Æ´Ñ º°µµÀÇ ´ÜÀ§·Î¼, ¹«ÇÑ´ëÀÇ ¸éÀûÀ¸·Î Çؼ®ÇÏ´Â °ÍÀÌ ÀϹÝÀûÀÔ´Ï´Ù.
¼±ÀúÇ×Àº µÎ°³ÀÇ probe·Î ÀÓÀÇÀÇ °Å¸®¿¡ ´ëÇÑ ÀúÇ×À» ÃøÁ¤ÇÏÁö¸¸, ¸éÀúÇ×ÀÇ °æ¿ì¿¡´Â
µ¿ÀÏÇÑ °£°ÝÀÇ 4°³Å½Ä§À¸·Î ÃøÁ¤ÇÏ°Ô µË´Ï´Ù.
À̶§ ¾²ÀÌ´Â Probe°¡ 4-point probeÀÌ°í, ÀϹÝÀûÀ¸·Î ŽħÀº 1mm°£°ÝÀ¸·Î
ÀϷı¸¼ºµÈ probe¸¦ »ç¿ëÇϸç, 4°³ÀÇ Å½Ä§À¸·Î Àü·ù¿Í Àü¾ÐÀ» ÃøÁ¤ÇÏ¿©, ÀúÇ×°ªÀ» ±¸ÇÑ
ÈÄ, ¸éÀúÇ× ´ÜÀ§ÀÎ ohm/sq·Î °è»êÇϱâ À§ÇØ º¸Á¤°è¼ö(C.F)¸¦ Àû¿ëÇÕ´Ï´Ù.
¸éÀúÇ×°ªÀº Wafer, LCD, žçÀüÁö(Solar cell), ¿¬·áÀüÁö, OLED µîÀÇ ¹úÅ© ¹× ¹Ú¸·ÀÇ Àüµµ¼ºÀ»
°Ë»çÇϱâ À§ÇÏ¿© ¾²ÀÔ´Ï´Ù. |
|
V/I =
ohm
ohm ¡¿ C.F = ohm/sq |
2. ºñÀúÇ×(ohm¡¤cm)À̶õ? |
|
ºñÀúÇ×Àº ¹°ÁúÀÇ °íÀ¯ÀúÇ×À¸·Î¼ ¼ø¼ö¹°ÁúÀÇ °æ¿ì¿¡´Â ±× ºñÀúÇ×°ªÀÌ ¾Ë·ÁÁ® ÀÖÁö¸¸,
È¥ÇÕ¹°ÀÇ °æ¿ì ¿©·¯°¡Áö ¹æ¹ý¿¡ ÀÇÇÏ¿© ±¸ÇÒ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù. 4-point probe¹æ½ÄÀÇ ¸éÀúÇ×ÃøÁ¤±â¸¦
ÀÌ¿ëÇÒ °æ¿ì ¹Ú¸·ÀÇ µÎ²²¸¦ ¾Ë°í ÀÖ¾î¾ß ÇÏ°í, ´ÙÀ½ ½ÄÀ¸·Î ±¸ÇÒ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù. |
|
ohm/sq
¡¿ Thickness(cm) = ohm¡¤cm |
3. ±Ý¼ÓÀÇ ¹Ú¸·µÎ²²ÃøÁ¤µµ °¡´ÉÇÑ°¡? |
|
¸éÀúÇ×°ª(ohm/sq)À» ÀÌ¿ëÇÑ ±Ý¼Ó¹Ú¸·µÎ²² °è»ê¹ýÀº À§ÀÇ ºñÀúÇ×(ohm¡¤cm)°ªÀ» ÀÌ¿ëÇÏ´Â °ÍÀε¥, ÀÌ´Â
ÀÌ¹Ì ºñÀúÇ×°ªÀ» ¾Ë°í ÀÖ´Â Àç·áÀÏ °æ¿ì¿¡ °¡´ÉÇÕ´Ï´Ù. |
|
Thickness(cm)
= ohm¡¤cm ¡À ohm/sq |
4. º¸Á¤°è¼ö(Correction
Factor)¶õ? |
|
¸éÀúÇ×°ªÀ» °è»êÇϱâ À§Çؼ´Â 4-point probe·Î ÃøÁ¤ÇÑ ÀúÇ×°ª(ohm)¿¡ º¸Á¤°è¼ö¸¦ Àû¿ëÇؾßÇÕ´Ï´Ù.
º¸Á¤°è¼ö´Â Sample size¿Í ¹Ú¸·ÀÇ µÎ²², ±×¸®°í ÃøÁ¤ ½Ã ¿Âµµ±îÁö 3°¡Áö °è¼ö¸¦ ÀÌ¿ëÇÏ¿© »êÃâµË´Ï´Ù.
Sample size °è¼ö´Â 40mmÀÌ»óÀÇ Á÷°æÀÇ SampleÀÏ °æ¿ì 4.532ÀÌ°í, ¹Ú¸·µÎ²²°è¼ö´Â ¹Ú¸·µÎ²²°¡
¾à400umÀÌÇÏ ÀÏ ¶§ 1À̸ç, ¿Âµµ´Â SampleÀÇ ¿Âµµ°è¼ö¿¡ µû¶ó ¾à°£ÀÇ º¯È°¡ ÀÖÁö¸¸ ¾à23¡ÆCÀÏ ¶§
1¿¡ °¡±õ½À´Ï´Ù. ÀÌ Á¶°ÇÀ¸·Î º¸Á¤°è¼ö¸¦ °è»êÇÏ¿© º¸¸é ´ÙÀ½°ú °°½À´Ï´Ù.
¹°·Ð À§ Á¶°Ç¿¡ ÀûÇÕÇÏÁö ¾ÊÀ» °æ¿ì¿¡´Â ±×¿¡ ÇØ´çÇÏ´Â ÀûÀýÇÑ º¸Á¤°è¼ö¸¦ Àû¿ëÇØ¾ß Çϸç,
CMT½Ã¸®Áî´Â S/W¸¦ ÀÌ¿ëÇÏ¿© ÀûÀýÇÑ º¸Á¤°è¼ö¸¦ Àû¿ëÇÒ ¼ö ÀÖ½À´Ï´Ù. |
|
C.F =
cf1 ¡¿ cf2 ¡¿ cf3
4.532 = 4.532 ¡¿ 1 ¡¿ 1 |
5. 4-Point Probe Head´Â? |
|
4-point probe Head´Â Four point probe, 4Žħ µîÀÇ À̸§À¸·Î ºÒ¸®¿ì°í ÀÖ½À´Ï´Ù.
Žħ(Probe tip)À» 4°³ ÀåÂøÇÏ¿© ¸éÀúÇ×ÃøÁ¤¿ëÀ¸·Î »ç¿ëÇÏ´Â probe¸¦ ÀÏÄ´ ¸»ÀÔ´Ï´Ù.
º¸ÅëÀº 1mm°£°ÝÀ̸ç ÀÏ·Ä(Linear type)·Î ŽħÀ» Á¤·Ä½ÃŲ °ÍÀ» ÀÌ¿ëÇÕ´Ï´Ù.
ÀÌ¿Ü¿¡´Â ŽħÀ» Á¤¹æÇüÀ¸·Î ³ª¿½ÃŲ Squre typeÀÇ Hall
probe¿Í °í¿Â±îÁö °ßµô ¼ö ÀÖµµ·Ï Ư¼öÁ¦ÀÛ µÈ °í¿Â¿ë Probe°¡ ÀÖ½À´Ï´Ù.
¼¼°èÀûÀ¸·Î JANDELÞäÀÇ Probe Head°¡ °í°¡ÀÌÁö¸¸, ³»±¸¼º°ú Á¤¹Ðµµ ¹× ¾ÈÁ¤¼º¿¡ ÀÖ¾î¼ ÀÎÁ¤ ¹Þ°í ÀÖ½À´Ï´Ù.
¸éÀúÇ×ÃøÁ¤±â¿¡¼ °¡Àå Áß¿äÇÑ ¼Ò¸ðÇ°À¸·Î Àåºñ ¼±Åà ½Ã ¹Ýµå½Ã °í·ÁÇØ¾ß ÇÒ ºÎºÐÀÔ´Ï´Ù. |
6. Àý¿¬Ã¼
°íÀúÇ× ÃøÁ¤Àº? |
|
¿©±â¼ Àý¿¬Ã¼¶ó ÇÔÀº ´ëÀü¹æÁö¼ÒÀç ¹× Çöó½ºÆ½ °¡°ø¹° µîÀÇ ÀúÇ×°ªÀÌ 107 ohm/sq
ÀÌ»ó µÇ´Â SampleÀ» ÀǹÌÇÕ´Ï´Ù. 107 ohm/sq ÀÌ»óÀÇ °íÀúÇ×Àº
³ôÀº Àü¾ÐÀ» ÀÌ¿ëÇϱ⠶§¹®¿¡ 4 point probe ¹æ½ÄÀ¸·Î´Â ÃøÁ¤ÀÌ Èûµé¾î,
º¸ÅëÀº rail type À̳ª 2 probe¹æ½Ä ¶Ç´Â Circle typeÀÇ Probe¸¦ ÀÌ¿ëÇÕ´Ï´Ù.
4 Point probe system°ú °°ÀÌ Ç¥¸éÀúÇ×ÃøÁ¤±â¶ó ºÒ¸®±âµµÇÏÁö¸¸
°íÀúÇ×ÃøÁ¤±â¶ó°íµµ ºÎ¸£¸ç ´ç»ç¿¡¼´Â Ãë±ÞÇÏ°í ÀÖÁö ¾Ê½À´Ï´Ù. |
7. 4-point probe systemÀÇ °Ë±³Á¤Àº?
|
|
4-point probe systemÀº ÀϹÝÀûÀÌ°í º¸ÆíÈµÈ °èÃø±â°¡ ¾Æ´Ï±â ¶§¹®¿¡ °Ë±³Á¤ ÇÒ ¼ö ÀÖ´Â
±¹³» ±³Á¤±â°üÀº ±ØÈ÷ µå¹°¾î ´ëºÎºÐ ¾÷ü¿¡¼ Á¦Á¶»ç °Ë±³Á¤À¸·Î ´ëüÇÏ°í ÀÖ½À´Ï´Ù.
´ç»ç´Â Á¤¹ÐÀúÇ×°ú NIST(¹Ì±¹±¹¸³Ç¥Áرâ¼ú¿¬) ¶Ç´Â KRISS(Çѱ¹Ç¥ÁØ°úÇп¬)ÀÇ ÀÎÁõ¹°Áú(Standard wafer)À» ÀÌ¿ëÇÏ¿©
±³Á¤À» ½Ç½ÃÇÏ°í ÀÖ¾î, ±¹³»´Â ¹°·Ð ÇØ¿Ü »ç¿ëÀÚ±îÁö °í·ÁÇÑ ±³Á¤À» ½Ç½ÃÇÏ°í ÀÖ½À´Ï´Ù.
´ç»ç´Â »ç¿ëÀÚ ¿äû ½Ã¿¡ Àú·ÅÇÑ ±³Á¤ºñ¿ëÀ¸·Î Ç×»ó Á¤È®ÇÑ Data¸¦ À¯ÁöÇÒ ¼ö ÀÖµµ·Ï Áö¼ÓÀûÀÎ ±â¼úÁö¿øÀ» ÇÏ°í ÀÖ½À´Ï´Ù. |